在APS，我們致力于為客戶提供符合國際質(zhì)量的產(chǎn)品。今天，APS和大多數(shù)半導(dǎo)體跨國公司一樣，仍然參照以下標(biāo)準(zhǔn)來進(jìn)行功率器件的鑒定。

JESD47《集成電路的壓力測試驅(qū)動資格》

AEC-Q101《汽車應(yīng)用中分立半導(dǎo)體的基于失效機(jī)制的壓力測試資格》

此外，APS還將參考其他新興、合適的標(biāo)準(zhǔn)和方法，以保持我們與市場競爭者的同步。

JEP148基于故障風(fēng)險和機(jī)會評估的物理學(xué)的半導(dǎo)體器件可靠性鑒定 

JESD94使用基于知識的測試的特定應(yīng)用鑒定 

JC-70委員會是為WBG（GaN和SiC）測試標(biāo)準(zhǔn)化任務(wù)組而成立的。

可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)介紹

APS利用符合國際標(biāo)準(zhǔn)的檢測設(shè)備來支持我們的可靠性驗證計劃。

• 驗證規(guī)范：完全按照國際行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，如JESD47及AEC-Q101制定驗證計劃；標(biāo)準(zhǔn)媲美國際大品牌 

• 驗證能力：借助香港科學(xué)園和本地大學(xué)為主導(dǎo)的國際級可靠性和失效分析實驗室，配合產(chǎn)品驗證和分析需求 

• 失效分析： 嚴(yán)謹(jǐn)?shù)氖Х治鰣蟾婕伴]路反饋確保每個失效狀態(tài)有效處理；相關(guān)導(dǎo)入DFMEA

• 數(shù)據(jù)導(dǎo)向：強(qiáng)調(diào)驗證數(shù)據(jù)之統(tǒng)計分析，測試前后數(shù)據(jù)及Cpk 之變化，成因與改善行動之跟進(jìn)行動；并不會滿足於0/1準(zhǔn)則  

• 延伸壽命測試： 除了滿足國際標(biāo)準(zhǔn)， 亦會追求延伸壽命測試以發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在的凡風(fēng)險， 讓產(chǎn)品變得更可靠耐用

由于SiC比Si具有更優(yōu)越的內(nèi)在材料特性，因此可以證明以下性能。

• 更長的壽命（由于可以承受更高的電場）。

• 更高的溫度耐久性

• 可靠性

結(jié)合適當(dāng)?shù)姆庋b和材料技術(shù)，SiC器件可以在一些可靠性測試中表現(xiàn)出其優(yōu)越的可靠性能，如：